可靠性试验设备-饱和加速寿命试验机（PCT)

可靠性试验设备饱和加速寿命试验机PCT概要：
主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障

可靠性试验设备饱和加速寿命试验机PCT特点：
1.内箱材料采用SUS304不锈钢;外箱材料采用双面镀锌钢板表面静电喷塑处理。
外观采用简约实用设计风格，具有耐用性和抗磨损性等特点
2.跨平台控制系统可实现远程监控、数据上抛,异常推送，程序监管及兼容MES数据交互
3.智慧型饱和蒸汽温度值，人力控制装置于饱和蒸汽压力检知
4.白金温度传感PT100型感知精确温度
4.棋置形圆形内箱结构设计，方便待测样品取置与蒸汽冲击隔离装置
5.全自动真空清洁程序，减低试品污染

可靠性试验设备饱和加速寿命试验机PCT规格：
型号 JPCT40 JPCT60 JPCT80
容积/L 40 60 80
整体尺寸
WHD cm 900x1800x1120
以图纸为准
以图纸为准

温度范围 RT+20℃~250℃
温度控制范围 105～℃+150℃
湿度范围 100%RH
温度上升时间 100min 从常温到120C且温度到达85%RH的时间
温度偏差 ≤±1.5℃空载
温度均匀度 ≤±1.5℃空载
压力波动均匀度 ±0.1kg
电源 AC220V或AC380V