无损检测成像系统 平板探测器 安竹光

XRAY无损检测成像系统平板探测器 安竹光



高性能的动态平板探测器，图像好、曝光时间短、成像速度快和读出速度高等特点，可以实现1x1原图30fps帧速率，

2x2 binning60fps帧速率，同时提供适用于X射线实时成像应用。






技术参数

规格

探测器类别

非晶硅

闪烁体

Cs1 G0S

图像尺寸mm

160×130

像素矩阵

1274×1024

像素间距um

125

A/D换bits

16

灵敏度LSB/nGy, RQA5

1.4

线性剂量uGy, RQA5.

40

调制传递函数@ 0.5 LP/mm

0.60

调制传递函数@ 1.0 LP/mm

0.36

调制传递函数@ 2.0 LP/mm

0.16

调制传递函数@ 3.0 LP/mm

0.08

残影%, 300uGy, 60s

<0.5

量子探测效率@ 0.0 LP/mm 2.5uGy

0.73

量子探测效率@ 1.0 LP/mm 2.5uGy

0.55

量子探测效率@ 2.0 LP/mm 2.5uGy

0.45

量子探测效率@ 3.0 LP/mm 2.5uGy

0.29

空间分辨率LP/mm

4.0

帧速率fps

15.

X射线工作范围kV

40//150

传输方式

千兆网线

功率W

12

电源V

DC24

交流电源频率Hz

50//60

适配器输出电压V

24 DC

探测器尺寸mm

170×195×16mm

探测器重量kg,不含线缆

1.0±0.1

探测器外壳材料

碳板,铝合金

存储温度ºC

20//55

工作温度ºC

5//35

存储和运输湿度%RH

10//75

工作湿度%RH

10//75